SpringBoot整合MybatisPlus如何实现芯片测试

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问题描述

有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。
输入格式
输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。
输出格式
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

解题思路

这个题重在思考，想通了原理，编程非常简单！
题目中的一个条件非常重要：已知好芯片比坏芯片多
因此随便拿一个芯片，看所有芯片对它的评价，如果为1的数量大于0的话，该芯片就是好的。
思路找到了，那么程序中怎么去求所有芯片对一个芯片的评价之和呢？
其实很简单，数组的第一列其实就分别表示，第j个芯片对第1个芯片的评价。换言之，直接判断第一列1和0的个数，如果1的个数多，那么第一个芯片就是好的了。

程序清单

#includeusing namespace std;int main(){         int n=0;        cin>>n; //输入n,n大于2，小于20 int a[n][n];for(int i=0;i>a[i][j];  //输入测试结果 }for(int j=0;jn-sum) //如果1的个数大于0的个数 ，则为好芯片                         cout<;}return 0;}

测试结果

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